5. Les appareils de mesure topographique
5.1. Le profilomètre Dektap 32 : méthode mécanique
Le système de mesure utilise une méthode purement mécanique. Par rapport à un microscope à force atomique, la force appliqué par la pointe est beaucoup plus faible (ici la force appliquée correspond à 3mg soit environ 30mN). Nous mettons en contact la tête de lecture en diamant et la plaque de verre aux bords du dépôt (là où les plaquettes en inox masquaient le verre de la pulvérisation). La pointe va se déplacer sur la surface en suivant la dénivellation. Les déplacements sont traités par ordinateur.
Les résultats des mesures d’épaisseurs en vertical avec cette méthode sont donnés à 40 Å près.
5.2. La station de mesure RM600 3-D : méthode optique
On utilise la station de mesure topographique Feinprüf Perthen RM600 3-D pour des mesures d’état de surface sans contact. Celle-ci permet d’obtenir la topographie d’un dépôt fragile ce qui est intéressant ici, puisque le carbone sous forme graphite est assez friable.
On éclaire l’échantillon à l'aide d'un faisceau laser et on réalise l'image du point incident à travers un objectif sur un capteur. Si l’altitude du point d’incidence change lors d’un déplacement, l’image de ce point va se déplacer sur le capteur. On pourra alors, en se déplaçant, restituer la topographie de l’échantillon.
La résolution verticale est de 5 nm.
5.3. Le microscope électronique à balayage
La microscopie électronique à balayage « Scanning Electron Microscopy » est une technique fondée sur la détection des électrons secondaires qui émergent sous l’impact d’un très fin faisceau d’électrons primaires balayant la surface observée.
Étant donné qu'ils proviennent des couches superficielles, les électrons secondaires sont très sensibles aux variations de la surface de l'échantillon ; la moindre dénivellation va modifier la quantité d'électrons collectés. Ces électrons permettent donc d'obtenir des renseignements sur la topographie de l'échantillon.
On obtient des images avec une résolution verticale entre 3 et 5 nm.
5.4. Comparaisons des méthodes de mesures
En théorie les trois méthodes ont une résolution similaire en vertical. En pratique il n’en est pas de même. La station de mesure RM 600-D donne des résultats en micromètre au 1/100ème, sa résolution ne peut donc pas être de 5nm mais plutôt de 20nm d’après un technicien. Cette station est donc celle qui donne les mesures avec le plus d’incertitude. Je présenterais dans mon rapport les résultats obtenus avec le profilomètre, car j’ ai effectué les mesures moi-même contrairement au microscope électronique à balayage.
n°3 : Graphe des différentes mesures de topographie pour un même échantillon
A part pour la mesure de la station RM600 sur la position A, les épaisseurs mesurées avec les trois méthodes restent relativement les mêmes; en effet chaque position (A, B, C, D, E) s’étale sur une surface de 1cm. Selon où a été effectuée la mesure, l’épaisseur peut varier d’une cinquantaine de nanomètres.